国仪公司发布200kV场发射透射电镜TEM-F200

国仪公司10月18日在南京市2026年全国电子显微学学术年会上发布自主研发的200kV场发射透射电镜TEM-F200，信息分辨率达0.1纳米，点分辨率达0.25纳米，并已具备量产交付能力。公司称该产品从核心模组、控制分析软件到系统集成实现全流程自主研发，董事长贺羽表示已建立客户服务体系。透射电镜是半导体、先进材料、新能源和生命科学等领域的关键分析工具，此前全球市场由少数国际厂商占据。